有源進(jìn)口Oscillator隨時(shí)間推移延長使用壽命的計(jì)算變化結(jié)果
石英晶振的抗老化率是主要關(guān)鍵的一步.一般晶振的延長老化的測試結(jié)果時(shí)間為1900天的觀察時(shí)間,老化測量用于幾種類型的石英晶體振蕩器包括AT和SC切割烤箱控制的晶體振蕩器(OCXO)以及溫度補(bǔ)償晶體振蕩器(TCXO)雖然每個(gè)OCXO都是在生產(chǎn)中老化,通常只收集數(shù)據(jù)滿足老化率所需的一段時(shí)間.
TCXO晶振很少因此而老化確定真正老化所需的長測試時(shí)間性能,研究老化性能的結(jié)果長時(shí)間的大型振蕩器組時(shí)間通常不可用,顯示的許多測試結(jié)果都是振蕩器是生產(chǎn)訂單超出,單位不符合特定規(guī)格或展出老化測試測量過程中的異常行為.它必須注意的是,顯示的數(shù)據(jù)量很大頻率擾動(dòng)不是常態(tài),代表a只有百分之幾的振蕩器沒有顯示異常.

每個(gè)振蕩器的數(shù)據(jù)都是通過平均最多20個(gè)樣本1秒收集門間隔大約每2小時(shí)一次.自動(dòng)化對所有石英振蕩器進(jìn)行測試測量不斷通過軟件控制,除非它們是要么加載到老化系統(tǒng),要么從老化系統(tǒng)卸載每天.在此過程中,數(shù)據(jù)收集將停止大約3到5個(gè)小時(shí).中斷也可能是常規(guī)的結(jié)果在老化系統(tǒng)或電力故障.在這種情況下,振蕩器可能會(huì)關(guān)閉幾個(gè)小時(shí)并收集數(shù)據(jù)可能會(huì)停止長達(dá)幾天.所有提供的數(shù)據(jù)都縮小了由于受限制而刪除所有其他數(shù)據(jù)點(diǎn)圖形軟件.
時(shí)間尺度已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化最后一個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)于2000年2月15日在x軸上表示第0天,標(biāo)記為"天",因此,在此日期之前采取的所有數(shù)據(jù)點(diǎn)用來自的負(fù)天數(shù)表示標(biāo)準(zhǔn)化日期.這是為了便于定位事件對于多個(gè)單元的數(shù)據(jù)集是通用的,因此,將它們與單一行為隔離開來振蕩器.已從結(jié)果中刪除了雜散點(diǎn)顯示允許觀察感興趣的數(shù)據(jù).流浪數(shù)據(jù)點(diǎn)的出現(xiàn)主要是由于老化時(shí)的磨損系統(tǒng)測試夾具插座和RF開關(guān)過度使用,這導(dǎo)致錯(cuò)誤的頻率由于偶爾間歇性接觸而導(dǎo)致的讀數(shù)射頻信號(hào)路徑.
由于元件值的變化引起的頻率漂移在其生命中可能直接影響振蕩循環(huán)或維持的穩(wěn)態(tài)功能電壓調(diào)節(jié),烤箱控制和電路信號(hào)輸出級(jí).老化程度與內(nèi)部成分有關(guān)振蕩回路或周圍電路是取決于石英晶振的電抗斜率工作頻率.為了更好地理解效果振蕩回路內(nèi)的元件值漂移老化表現(xiàn),我們需要考慮簡化的阻抗框圖如圖中所示.

盡管如此,收集的數(shù)據(jù)這些振蕩器在很長一段時(shí)間內(nèi)都會(huì)出現(xiàn)有趣的品質(zhì)值得注意.一些事實(shí)上,振蕩器故意留在老齡化系統(tǒng)專門研究衰老過程和還介紹了這些振蕩器的數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)代表現(xiàn)實(shí)世界的表現(xiàn)捕捉日常和季節(jié)性的周期性變化變化以及由于動(dòng)力而回撤的影響故障和預(yù)定的系統(tǒng)維護(hù),它是重要的是要認(rèn)識(shí)到真正的老化表現(xiàn)這些因素使石英晶體振蕩器混淆.
老化是振蕩器頻率的變化隨著時(shí)間的推移,在不斷的環(huán)境和系統(tǒng)水平下條件.石英晶體振蕩器的老化是由石英晶體本身或振蕩器組件中的其余組件.石英晶體的老化是組合的結(jié)果幾個(gè)因素.其中一些因素可能包括雜質(zhì)的擴(kuò)散和氣體的釋氣石英晶體,其支架,玻璃或陶瓷基座和用于安裝石英的粘合劑.它也可能包括從電極到金屬的金屬遷移石英表面.這些事件涉及到的交流石英晶體的質(zhì)量導(dǎo)致其變化頻率.其他因素也有助于衰老石英晶體包括水晶支架的應(yīng)力消除和微觀支架泄漏.雖然嚴(yán)重泄漏眾所周知.持有人會(huì)導(dǎo)致持續(xù)下行頻率,微觀泄漏對長期的影響術(shù)語老化表現(xiàn)尚不清楚.

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